從應(yīng)用特性來看,封裝測(cè)試環(huán)節(jié)對(duì)設(shè)備的工藝兼容性有明確要求,丹東半導(dǎo)體設(shè)備需能適配不同封裝形式(如QFP、BGA、SiP)的加工與測(cè)試需求,通過符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的機(jī)械傳動(dòng)結(jié)構(gòu)與數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)對(duì)芯片電性能、熱穩(wěn)定性的規(guī)范檢測(cè),避免因設(shè)備適配不足導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果偏差。